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Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence

Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence SCIE

IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence雜志

中科院分區:1區 JCR分區:Q1 預計審稿周期: 約7.9個月

《Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence》是一本由IEEE Computer Society出版商出版的計算機科學國際刊物,國際簡稱為IEEE T PATTERN ANAL,中文名稱IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence。該刊創刊于1979年,出版周期為Monthly。 《Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence》2023年影響因子為20.8,被收錄于國際知名權威數據庫SCIE。

ISSN:0162-8828
研究方向:工程技術-工程:電子與電氣
是否預警:否
E-ISSN:1939-3539
出版地區:UNITED STATES
Gold OA文章占比:9.87%
語言:English
是否OA:未開放
OA被引用占比:0
出版商:IEEE Computer Society
出版周期:Monthly
影響因子:20.8
創刊時間:1979
年發文量:1005
雜志簡介 中科院分區 JCR分區 CiteScore 發文統計 通訊方式 相關雜志 期刊導航

Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence 雜志簡介

《Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence》重點專注發布工程技術-工程:電子與電氣領域的新研究,旨在促進和傳播該領域相關的新技術和新知識。鼓勵該領域研究者詳細地發表他們的高質量實驗研究和理論結果。根據網友分享的投稿經驗,平均審稿速度為 約7.9個月 。該雜志創刊至今,在工程技術-工程:電子與電氣領域,影響力非凡,對來稿文章質量要求很高,稿件投稿過審難度很大,刊登文章的學術水平和編輯質量在同類雜志中均名列前茅。如果你想在該雜志上發表論文,你可以向編輯部提交文章,但文章必須具有重要意義并代表該領域專業的發展。我們歡迎廣大同領域的研究者提交投稿。

Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence 雜志中科院分區

中科院SCI分區數據
中科院SCI期刊分區(2023年12月升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 1區 COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計算機:人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 1區
中科院SCI期刊分區(2022年12月升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 1區 COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計算機:人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 1區
中科院SCI期刊分區(2021年12月舊的升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 1區 COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計算機:人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 1區
中科院SCI期刊分區(2021年12月基礎版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 1區 COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計算機:人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 1區
中科院SCI期刊分區(2021年12月升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 1區 COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計算機:人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 1區
中科院SCI期刊分區(2020年12月舊的升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 1區 COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計算機:人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 1區
中科院分區趨勢圖
影響因子趨勢圖

中科院JCR分區:中科院JCR期刊分區(又稱分區表、分區數據)是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果,是衡量學術期刊影響力的一個重要指標,一般而言,發表在1區和2區的SCI論文,通常被認為是該學科領域的比較重要的成果。

影響因子:是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數據,現已成為國際上通用的期刊評價指標,不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標,而且也是測度期刊的學術水平,乃至論文質量的重要指標。

Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence 雜志JCR分區

Web of Science 數據庫(2023-2024年最新版)
按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE SCIE Q1 2 / 197

99.2%

學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 3 / 352

99.3%

按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE SCIE Q1 3 / 198

98.74%

學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 2 / 354

99.58%

Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence CiteScore 評價數據(2024年最新版)

  • CiteScore:28.4
  • SJR:6.158
  • SNIP:6.47

CiteScore 排名

學科類別 分區 排名 百分位
大類:Mathematics 小類:Applied Mathematics Q1 1 / 635

99%

大類:Mathematics 小類:Computational Theory and Mathematics Q1 1 / 176

99%

大類:Mathematics 小類:Software Q1 7 / 407

98%

大類:Mathematics 小類:Artificial Intelligence Q1 8 / 350

97%

大類:Mathematics 小類:Computer Vision and Pattern Recognition Q1 6 / 106

94%

CiteScore趨勢圖
年發文量趨勢圖

CiteScore:是由Elsevier2016年發布的一個評價學術期刊質量的指標,該指標是指期刊發表的單篇文章平均被引用次數。CiteScore和影響因子的作用是一樣的,都是可以體現期刊質量的重要指標,給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence 雜志發文統計

文章名稱引用次數

  • DeepLab: Semantic Image Segmentation with Deep Convolutional Nets, Atrous Convolution, and Fully Connected CRFs1207
  • Places: A 10 Million Image Database for Scene Recognition155
  • HyperFace: A Deep Multi-Task Learning Framework for Face Detection, Landmark Localization, Pose Estimation, and Gender Recognition129
  • Direct Sparse Odometry121
  • Long-Term Temporal Convolutions for Action Recognition105
  • Multimodal Machine Learning: A Survey and Taxonomy104
  • A Survey on Learning to Hash84
  • SIFT Meets CNN: A Decade Survey of Instance Retrieval79
  • Virtual Adversarial Training: A Regularization Method for Supervised and Semi-Supervised Learning67
  • Deeply Supervised Salient Object Detection with Short Connections66

國家/地區發文量

  • USA271
  • CHINA MAINLAND266
  • England81
  • Australia62
  • Singapore51
  • GERMANY (FED REP GER)49
  • France44
  • South Korea35
  • Italy34
  • Switzerland31

機構發文發文量

  • CHINESE ACADEMY OF SCIENCES60
  • UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM47
  • MICROSOFT29
  • NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY & NATIONAL INSTITUTE OF EDUCATION (NIE) SINGAPORE24
  • TSINGHUA UNIVERSITY24
  • CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS)23
  • PEKING UNIVERSITY23
  • IMPERIAL COLLEGE LONDON21
  • UNIVERSITY OF LONDON20
  • UNIVERSITY OF SYDNEY20

Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence 雜志社通訊方式

《Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence》雜志通訊方式為:IEEE COMPUTER SOC, 10662 LOS VAQUEROS CIRCLE, PO BOX 3014, LOS ALAMITOS, USA, CA, 90720-1314。詳細征稿細則請查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導服務,SCI檢索,確保稿件信息安全保密,合乎學術規范,詳情請咨詢客服。

免責聲明

若用戶需要出版服務,請聯系出版商:IEEE COMPUTER SOC, 10662 LOS VAQUEROS CIRCLE, PO BOX 3014, LOS ALAMITOS, USA, CA, 90720-1314。

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