《International Journal Of Robust And Nonlinear Control》雜志的影響因子為3.2。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標(biāo)，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
以下是如何查看影響因子的幾種方法：
一、通過專業(yè)數(shù)據(jù)庫查詢
1. 通過Web of Science數(shù)據(jù)庫查詢：Web of Science是一個權(quán)威的學(xué)術(shù)數(shù)據(jù)庫，提供期刊影響因子的官方數(shù)據(jù)。
2.中國知網(wǎng)（CNKI）：在CNKI中，用戶可以通過期刊導(dǎo)航功能搜索目標(biāo)期刊，并在期刊詳情頁面查看其影響因子。
3.使用JCR：JCR是專門提供期刊引證報告的工具，隸屬于Web of Science。
二、查閱學(xué)術(shù)期刊官方網(wǎng)站
許多學(xué)術(shù)期刊會在其官方網(wǎng)站上公布最新的影響因子數(shù)據(jù)。
三、參考學(xué)術(shù)權(quán)威指南和排名
影響因子是一個動態(tài)變化的指標(biāo)，會隨著時間的推移而發(fā)生變化。因此，在查看影響因子時，需要關(guān)注其發(fā)布的時間點。
《International Journal Of Robust And Nonlinear Control》雜志創(chuàng)刊于1991年，由John Wiley and Sons Ltd出版商出版，出版周期為Semimonthly，國際簡稱為INT J ROBUST NONLIN，中文名稱國際魯棒和非線性控制雜志。該雜志旨在及時、準(zhǔn)確、全面地報道國內(nèi)外工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域取得的最新研究成果、工作進(jìn)展及學(xué)術(shù)動態(tài)、技術(shù)革新等，促進(jìn)學(xué)術(shù)交流，鼓勵學(xué)術(shù)創(chuàng)新。
《International Journal Of Robust And Nonlinear Control》雜志分區(qū)情況
中科院分區(qū)：在中科院最新升級版分區(qū)表中，大類學(xué)科計算機(jī)科學(xué)位于3區(qū)，小類學(xué)科AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS自動化與控制系統(tǒng)位于3區(qū)。
JCR分區(qū)：根據(jù)最新JCR分區(qū)， 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)中學(xué)科：AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS，位于Q2區(qū)，排名32 / 84，百分位62.5%；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q2區(qū)，排名130 / 352，百分位63.2%；MATHEMATICS, APPLIED，位于Q1區(qū)，排名14 / 331，百分位95.9%； 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)中學(xué)科：AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS，位于Q1區(qū)，排名20 / 84，百分位76.79%。ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q1區(qū)，排名85 / 354，百分位76.13%。MATHEMATICS, APPLIED，位于Q1區(qū)，排名69 / 331，百分位79.31%。
投稿咨詢| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS | SCIE | Q2 | 32 / 84 |
62.5% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 130 / 352 |
63.2% |
| 學(xué)科：MATHEMATICS, APPLIED | SCIE | Q1 | 14 / 331 |
95.9% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS | SCIE | Q1 | 20 / 84 |
76.79% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 85 / 354 |
76.13% |
| 學(xué)科：MATHEMATICS, APPLIED | SCIE | Q1 | 69 / 331 |
79.31% |
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影響因子：3.2
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