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Infrared Physics & Technology

Infrared Physics & Technology SCIE

紅外物理與技術雜志

中科院分區:3區 JCR分區:Q2 預計審稿周期: 約3.0個月 約8.1周

《Infrared Physics & Technology》是一本由Elsevier出版商出版的物理與天體物理國際刊物,國際簡稱為INFRARED PHYS TECHN,中文名稱紅外物理與技術。該刊創刊于1994年,出版周期為Bimonthly。 《Infrared Physics & Technology》2023年影響因子為3.1,被收錄于國際知名權威數據庫SCIE。

ISSN:1350-4495
研究方向:光學-物理
是否預警:否
E-ISSN:1879-0275
出版地區:NETHERLANDS
Gold OA文章占比:4.48%
語言:English
是否OA:未開放
OA被引用占比:0.0214...
出版商:Elsevier
出版周期:Bimonthly
影響因子:3.1
創刊時間:1994
年發文量:475
雜志簡介 中科院分區 JCR分區 CiteScore 發文統計 通訊方式 相關雜志 期刊導航

Infrared Physics & Technology 雜志簡介

《Infrared Physics & Technology》重點專注發布光學-物理領域的新研究,旨在促進和傳播該領域相關的新技術和新知識。鼓勵該領域研究者詳細地發表他們的高質量實驗研究和理論結果。該雜志創刊至今,在光學-物理領域,有較高影響力,對來稿文章質量要求較高,稿件投稿過審難度較大。歡迎廣大同領域研究者投稿該雜志。

Infrared Physics & Technology 雜志中科院分區

中科院SCI分區數據
中科院SCI期刊分區(2023年12月升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
物理與天體物理 3區 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 3區 3區 3區
中科院SCI期刊分區(2022年12月升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
物理與天體物理 2區 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 3區 3區 3區
中科院SCI期刊分區(2021年12月舊的升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
物理與天體物理 2區 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 2區 3區 3區
中科院SCI期刊分區(2021年12月基礎版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
物理 3區 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 3區 3區 4區
中科院SCI期刊分區(2021年12月升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
物理與天體物理 2區 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 2區 3區 3區
中科院SCI期刊分區(2020年12月舊的升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
物理與天體物理 2區 OPTICS 光學 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 2區 3區 3區
中科院分區趨勢圖
影響因子趨勢圖

中科院JCR分區:中科院JCR期刊分區(又稱分區表、分區數據)是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果,是衡量學術期刊影響力的一個重要指標,一般而言,發表在1區和2區的SCI論文,通常被認為是該學科領域的比較重要的成果。

影響因子:是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數據,現已成為國際上通用的期刊評價指標,不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標,而且也是測度期刊的學術水平,乃至論文質量的重要指標。

Infrared Physics & Technology 雜志JCR分區

Web of Science 數據庫(2023-2024年最新版)
按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 25 / 76

67.8%

學科:OPTICS SCIE Q2 37 / 119

69.3%

學科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 63 / 179

65.1%

按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 24 / 76

69.08%

學科:OPTICS SCIE Q2 43 / 120

64.58%

學科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 55 / 179

69.55%

Infrared Physics & Technology CiteScore 評價數據(2024年最新版)

  • CiteScore:5.7
  • SJR:0.565
  • SNIP:1.043

CiteScore 排名

學科類別 分區 排名 百分位
大類:Physics and Astronomy 小類:Condensed Matter Physics Q2 116 / 434

73%

大類:Physics and Astronomy 小類:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q2 63 / 224

72%

大類:Physics and Astronomy 小類:Electronic, Optical and Magnetic Materials Q2 83 / 284

70%

CiteScore趨勢圖
年發文量趨勢圖

CiteScore:是由Elsevier2016年發布的一個評價學術期刊質量的指標,該指標是指期刊發表的單篇文章平均被引用次數。CiteScore和影響因子的作用是一樣的,都是可以體現期刊質量的重要指標,給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Infrared Physics & Technology 雜志發文統計

文章名稱引用次數

  • Optical remote sensing image enhancement with weak structure preservation via spatially adaptive gamma correction28
  • Towards a table-top synchrotron based on supercontinuum generation19
  • Robust contact-point detection from pantograph-catenary infrared images by employing horizontal-vertical enhancement operator19
  • Two dimensional materials based photodetectors17
  • An overview of corrosion defect characterization using active infrared thermography17
  • Nondestructive measurement of soluble solids content in apple using near infrared hyperspectral imaging coupled with wavelength selection algorithm16
  • Infrared and visible image fusion with ResNet and zero-phase component analysis16
  • An infrared small target detection method based on multiscale local homogeneity measure12
  • Infrared small target detection based on local intensity and gradient properties11
  • Midwave infrared barrier detector based on Ga-free InAs/InAsSb type-II superlattice grown by molecular beam epitaxy on Si substrate11

國家/地區發文量

  • CHINA MAINLAND690
  • India61
  • USA58
  • Iran39
  • England32
  • Poland30
  • Russia28
  • South Korea23
  • Canada22
  • Italy19

機構發文發文量

  • CHINESE ACADEMY OF SCIENCES130
  • HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY62
  • TIANJIN UNIVERSITY40
  • SHANGHAI INSTITUTE OF TECHNICAL PHYSICS, CAS33
  • NANJING UNIVERSITY OF SCIENCE & TECHNOLOGY24
  • CHANGCHUN UNIVERSITY OF SCIENCE & TECHNOLOGY23
  • UNIVERSITY OF ELECTRONIC SCIENCE & TECHNOLOGY OF CHINA21
  • BEIHANG UNIVERSITY20
  • HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE & TECHNOLOGY18
  • RUSSIAN ACADEMY OF SCIENCES18

Infrared Physics & Technology 雜志社通訊方式

《Infrared Physics & Technology》雜志通訊方式為:ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, AMSTERDAM, NETHERLANDS, 1000 AE。詳細征稿細則請查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導服務,SCI檢索,確保稿件信息安全保密,合乎學術規范,詳情請咨詢客服。

免責聲明

若用戶需要出版服務,請聯系出版商:ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, AMSTERDAM, NETHERLANDS, 1000 AE。

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