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Ieee Transactions On Computational Imaging

Ieee Transactions On Computational Imaging SCIE

IEEE計算成像匯刊雜志

中科院分區:2區 JCR分區:Q2 預計審稿周期:

《Ieee Transactions On Computational Imaging》是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版的計算機科學國際刊物,國際簡稱為IEEE T COMPUT IMAG,中文名稱 IEEE計算成像匯刊。該刊創刊于2015年,出版周期為4 issues/year。 《Ieee Transactions On Computational Imaging》2023年影響因子為4.2,被收錄于國際知名權威數據庫SCIE。

ISSN:2333-9403
研究方向:Mathematics-Computational Mathematics
是否預警:否
E-ISSN:2333-9403
出版地區:United States
Gold OA文章占比:23.05%
語言:English
是否OA:未開放
OA被引用占比:0
出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版周期:4 issues/year
影響因子:4.2
創刊時間:2015
年發文量:91
雜志簡介 中科院分區 JCR分區 CiteScore 發文統計 通訊方式 相關雜志 期刊導航

Ieee Transactions On Computational Imaging 雜志簡介

《Ieee Transactions On Computational Imaging》重點專注發布Mathematics-Computational Mathematics領域的新研究,旨在促進和傳播該領域相關的新技術和新知識。鼓勵該領域研究者詳細地發表他們的高質量實驗研究和理論結果。根據網友分享的投稿經驗,平均審稿速度為 。該雜志創刊至今,在Mathematics-Computational Mathematics領域,影響力非凡,對來稿文章質量要求很高,稿件投稿過審難度很大,刊登文章的學術水平和編輯質量在同類雜志中均名列前茅。如果你想在該雜志上發表論文,你可以向編輯部提交文章,但文章必須具有重要意義并代表該領域專業的發展。我們歡迎廣大同領域的研究者提交投稿。

Ieee Transactions On Computational Imaging 雜志中科院分區

中科院SCI分區數據
中科院SCI期刊分區(2023年12月升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 2區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 2區 2區
中科院SCI期刊分區(2022年12月升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 2區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 2區 2區
中科院SCI期刊分區(2021年12月舊的升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 3區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 3區 3區
中科院SCI期刊分區(2021年12月基礎版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 2區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 3區 3區
中科院SCI期刊分區(2021年12月升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 3區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 3區 3區
中科院SCI期刊分區(2020年12月舊的升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 2區 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 2區 3區
中科院分區趨勢圖
影響因子趨勢圖

中科院JCR分區:中科院JCR期刊分區(又稱分區表、分區數據)是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果,是衡量學術期刊影響力的一個重要指標,一般而言,發表在1區和2區的SCI論文,通常被認為是該學科領域的比較重要的成果。

影響因子:是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數據,現已成為國際上通用的期刊評價指標,不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標,而且也是測度期刊的學術水平,乃至論文質量的重要指標。

Ieee Transactions On Computational Imaging 雜志JCR分區

Web of Science 數據庫(2023-2024年最新版)
按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 89 / 352

74.9%

學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q2 10 / 36

73.6%

按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 97 / 354

72.74%

學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q2 10 / 36

73.61%

Ieee Transactions On Computational Imaging CiteScore 評價數據(2024年最新版)

  • CiteScore:8.2
  • SJR:1.453
  • SNIP:1.422

CiteScore 排名

學科類別 分區 排名 百分位
大類:Mathematics 小類:Computational Mathematics Q1 10 / 189

94%

大類:Mathematics 小類:Signal Processing Q1 25 / 131

81%

大類:Mathematics 小類:Computer Science Applications Q1 157 / 817

80%

CiteScore趨勢圖
年發文量趨勢圖

CiteScore:是由Elsevier2016年發布的一個評價學術期刊質量的指標,該指標是指期刊發表的單篇文章平均被引用次數。CiteScore和影響因子的作用是一樣的,都是可以體現期刊質量的重要指標,給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Ieee Transactions On Computational Imaging 雜志發文統計

文章名稱引用次數

  • Multi-Exposure Image Fusion by Optimizing A Structural Similarity Index27
  • Convolutional Dictionary Learning: A Comparative Review and New Algorithms20
  • An Online Plug-and-Play Algorithm for Regularized Image Reconstruction16
  • Regularization by Denoising: Clarifications and New Interpretations14
  • SEAGLE: Sparsity-Driven Image Reconstruction Under Multiple Scattering14
  • A Parametric Level set Method for Imaging Multiphase Conductivity Using Electrical Impedance Tomography13
  • Depth Estimation From a Single Image Using Deep Learned Phase Coded Mask13
  • Convolutional Neural Networks for Noniterative Reconstruction of Compressively Sensed Images12
  • Physics-Based Learned Design: Optimized Coded-Illumination for Quantitative Phase Imaging12
  • Blind Image Watermark Detection Algorithm Based on Discrete Shearlet Transform Using Statistical Decision Theory12

國家/地區發文量

  • USA102
  • CHINA MAINLAND59
  • France24
  • Australia11
  • Netherlands11
  • Singapore10
  • England9
  • GERMANY (FED REP GER)8
  • India8
  • Scotland8

機構發文發文量

  • CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS)13
  • PURDUE UNIVERSITY SYSTEM12
  • UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM11
  • CHINESE ACADEMY OF SCIENCES10
  • BEIJING INSTITUTE OF TECHNOLOGY7
  • UNIVERSITY OF DELAWARE7
  • UNIVERSITY OF MICHIGAN SYSTEM7
  • HERIOT WATT UNIVERSITY6
  • INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT SYSTEM)6
  • RENSSELAER POLYTECHNIC INSTITUTE6

Ieee Transactions On Computational Imaging 雜志社通訊方式

《Ieee Transactions On Computational Imaging》雜志通訊方式為:445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。詳細征稿細則請查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導服務,SCI檢索,確保稿件信息安全保密,合乎學術規范,詳情請咨詢客服。

免責聲明

若用戶需要出版服務,請聯系出版商:445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。

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