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《Microelectronics Reliability》雜志主要接收以下類型的文章：

工程技術-工程：電子與電氣領域的研究?：文章內容涵蓋工程：電子與電氣領域的最新研究成果、技術革新和學術動態。

高質量學術論文?：雜志對文章質量要求較高，通常接收具有創新性和學術價值的研究成果。

投稿要求

內容要求：投稿的文章應涵蓋工程技術的關鍵主題，提供最新的研究進展和學術動態。

格式要求：投稿者需要遵循《Microelectronics Reliability》雜志的投稿要求和格式規范，包括文章結構、引用格式等。

其他信息

《Microelectronics Reliability》雜志出版周期：Monthly，出版地區：ENGLAND，語言：English。

該雜志屬于中科院分區中大類學科工程技術領域的4區，小類學科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣領域的4區。小類學科NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY納米科技領域的4區。小類學科PHYSICS, APPLIED物理：應用領域的4區。

投稿咨詢

在JCR分區中為Q3（ 按JIF指標學科分區學科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q3區，排名239 / 352，百分位32.2%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：SCIE，位于Q4區，排名113 / 140，百分位19.6%；PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q3區，排名131 / 179，百分位27.1%； 按JCI指標學科分區在學科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q4區，排名272 / 354，百分位23.31%NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：SCIE，位于Q4區，排名114 / 140，百分位18.93%PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q4區，排名140 / 179，百分位22.07% ）。

目前是未開放獲取期刊（OA） ，審稿周期預計為：平均審稿速度為 較快,2-4周 約8.3周 ，影響因子指數1.6。

該雜志創刊至今，在工程技術-工程：電子與電氣領域，影響力非凡，對來稿文章質量要求很高，稿件投稿過審難度很大，刊登文章的學術水平和編輯質量在同類雜志中均名列前茅。如果你想在該雜志上發表論文，你可以向編輯部提交文章，但文章必須具有重要意義并代表該領域專業的發展。我們歡迎廣大同領域的研究者提交投稿。

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