根據(jù)最新信息《Metrology And Measurement Systems》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JIF指標學科分區(qū)學科為INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q4區(qū)，排名62 / 76，百分位19.1%；按JCI指標學科分區(qū)在學科為INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q4區(qū)，排名64 / 76，百分位16.45%。
投稿咨詢| 按JIF指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q4 | 62 / 76 |
19.1% |
| 按JCI指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q4 | 64 / 76 |
16.45% |
這表明該刊在儀器儀表領(lǐng)域具有較高的學術(shù)影響力和認可度。此外，該刊創(chuàng)刊時間：1988年，影響因子：1，出版周期：Quarterly、出版商：Polish Academy of Sciences, Committee on Metrology and Scientific Instrumentation以及收錄情況等信息也為其學術(shù)影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標。
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