根據最新信息《Mapan-journal Of Metrology Society Of India》期刊在JCR分區中的排名如下：
按JIF指標學科分區學科為INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q4區，排名62 / 76，百分位19.1%；PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q4區，排名157 / 179，百分位12.6%；按JCI指標學科分區在學科為INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q4區，排名68 / 76，百分位11.18%PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q4區，排名152 / 179，百分位15.36%。
投稿咨詢| 按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q4 | 62 / 76 |
19.1% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 157 / 179 |
12.6% |
| 按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q4 | 68 / 76 |
11.18% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 152 / 179 |
15.36% |
這表明該刊在儀器儀表領域具有較高的學術影響力和認可度。此外，該刊創刊時間：2009年，影響因子：1，出版周期：Quarterly、出版商：Springer India以及收錄情況等信息也為其學術影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數據，現已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學術水平，乃至論文質量的重要指標。
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