根據最新信息《Journal Of Semiconductor Technology And Science》期刊在JCR分區中的排名如下：
按JIF指標學科分區學科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q4區，排名329 / 352，百分位6.7%；PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q4區，排名175 / 179，百分位2.5%；按JCI指標學科分區在學科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q4區，排名342 / 354，百分位3.53%PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q4區，排名176 / 179，百分位1.96%。
投稿咨詢| 按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 329 / 352 |
6.7% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 175 / 179 |
2.5% |
| 按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 342 / 354 |
3.53% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 176 / 179 |
1.96% |
這表明該刊在工程：電子與電氣領域具有較高的學術影響力和認可度。此外，該刊創刊時間：2001年，影響因子：0.5，出版周期：6 issues/year、出版商：Institute of Electronics Engineers of Korea以及收錄情況等信息也為其學術影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數據，現已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學術水平，乃至論文質量的重要指標。
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