《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》雜志的影響因子為4.7。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標。
以下是如何查看影響因子的幾種方法：
一、通過專業(yè)數(shù)據(jù)庫查詢
1. 通過Web of Science數(shù)據(jù)庫查詢：Web of Science是一個權(quán)威的學術(shù)數(shù)據(jù)庫，提供期刊影響因子的官方數(shù)據(jù)。
2.中國知網(wǎng)（CNKI）：在CNKI中，用戶可以通過期刊導航功能搜索目標期刊，并在期刊詳情頁面查看其影響因子。
3.使用JCR：JCR是專門提供期刊引證報告的工具，隸屬于Web of Science。
二、查閱學術(shù)期刊官方網(wǎng)站
許多學術(shù)期刊會在其官方網(wǎng)站上公布最新的影響因子數(shù)據(jù)。
三、參考學術(shù)權(quán)威指南和排名
影響因子是一個動態(tài)變化的指標，會隨著時間的推移而發(fā)生變化。因此，在查看影響因子時，需要關(guān)注其發(fā)布的時間點。
《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》雜志創(chuàng)刊于2008年，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版，出版周期為Monthly，國際簡稱為IEEE J-STARS，中文名稱IEEE應用地球觀測和遙感專題雜志。該雜志旨在及時、準確、全面地報道國內(nèi)外地學-成像科學與照相技術(shù)領(lǐng)域取得的最新研究成果、工作進展及學術(shù)動態(tài)、技術(shù)革新等，促進學術(shù)交流，鼓勵學術(shù)創(chuàng)新。
《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》雜志分區(qū)情況
中科院分區(qū)：在中科院最新升級版分區(qū)表中，大類學科地球科學位于2區(qū)，小類學科IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY成像科學與照相技術(shù)位于2區(qū)。
JCR分區(qū)：根據(jù)最新JCR分區(qū)， 按JIF指標學科分區(qū)中學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q1區(qū)，排名73 / 352，百分位79.4%；GEOGRAPHY, PHYSICAL，位于Q1區(qū)，排名7 / 65，百分位90%；IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY，位于Q1區(qū)，排名8 / 36，百分位79.2%；REMOTE SENSING，位于Q1區(qū)，排名12 / 62，百分位81.5%； 按JCI指標學科分區(qū)中學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q1區(qū)，排名77 / 354，百分位78.39%。GEOGRAPHY, PHYSICAL，位于Q1區(qū)，排名11 / 65，百分位83.85%。IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY，位于Q1區(qū)，排名8 / 36，百分位79.17%。REMOTE SENSING，位于Q1區(qū)，排名12 / 62，百分位81.45%。
投稿咨詢| 按JIF指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 73 / 352 |
79.4% |
| 學科：GEOGRAPHY, PHYSICAL | SCIE | Q1 | 7 / 65 |
90% |
| 學科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q1 | 8 / 36 |
79.2% |
| 學科：REMOTE SENSING | SCIE | Q1 | 12 / 62 |
81.5% |
| 按JCI指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 77 / 354 |
78.39% |
| 學科：GEOGRAPHY, PHYSICAL | SCIE | Q1 | 11 / 65 |
83.85% |
| 學科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q1 | 8 / 36 |
79.17% |
| 學科：REMOTE SENSING | SCIE | Q1 | 12 / 62 |
81.45% |
《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》雜志評價數(shù)據(jù)
影響因子：4.7
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影響因子：4.7
大類學科：地球科學
中科院：2區(qū)