《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》雜志社的通訊方式如下：IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。
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期刊簡介：
《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版的地球科學學術(shù)期刊，國際簡稱為IEEE J-STARS，中文名稱《IEEE應用地球觀測和遙感專題雜志》。該刊自2008年創(chuàng)刊以來，一直以年度Monthly形式出版。并被國際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄。
該刊專注于成像科學與照相技術(shù)及相關(guān)領(lǐng)域的前沿研究，致力于推動該領(lǐng)域新技術(shù)和新知識的傳播與應用。它鼓勵研究人員詳細發(fā)表高質(zhì)量的實驗研究和理論成果，為學術(shù)交流提供高質(zhì)量的平臺。
該刊的平均審稿周期 約3.0個月 。自創(chuàng)刊以來， 《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》在成像科學與照相技術(shù)領(lǐng)域一直具有很高的影響力，對稿件質(zhì)量要求嚴格。
《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》雜志的影響因子為4.7，屬于開放OA期刊，Gold OA文章占比：97.73%。且被收錄于國際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE。
投稿咨詢影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標。
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影響因子：4.7
大類學科：地球科學
中科院：2區(qū)