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期刊簡介：
《International Journal Of Applied Pattern Recognition》是一本學術期刊，國際簡稱為INT J APPL PATTERN R，中文名稱《國際應用模式識別雜志》。并被國際知名權威數據庫SCIE收錄。
該刊的平均審稿周期 。
《International Journal Of Applied Pattern Recognition》雜志的影響因子為1.1，屬于未開放OA期刊，Gold OA文章占比：0.00%。且被收錄于國際知名權威數據庫SCIE。
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