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Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement SCIE

儀器儀表和測量的IEEE Transactions雜志

中科院分區:2區 JCR分區:Q1 預計審稿周期: 約6.8個月

《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版的工程技術國際刊物,國際簡稱為IEEE T INSTRUM MEAS,中文名稱儀器儀表和測量的IEEE Transactions。該刊創刊于1952年,出版周期為Bimonthly。 《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》2023年影響因子為5.6,被收錄于國際知名權威數據庫SCIE。

ISSN:0018-9456
研究方向:工程技術-工程:電子與電氣
是否預警:否
E-ISSN:1557-9662
出版地區:UNITED STATES
Gold OA文章占比:6.42%
語言:English
是否OA:未開放
OA被引用占比:0
出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版周期:Bimonthly
影響因子:5.6
創刊時間:1952
年發文量:2247
雜志簡介 中科院分區 JCR分區 CiteScore 發文統計 通訊方式 相關雜志 期刊導航

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement 雜志簡介

《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》重點專注發布工程技術-工程:電子與電氣領域的新研究,旨在促進和傳播該領域相關的新技術和新知識。鼓勵該領域研究者詳細地發表他們的高質量實驗研究和理論結果。根據網友分享的投稿經驗,平均審稿速度為 約6.8個月 。該雜志創刊至今,在工程技術-工程:電子與電氣領域,影響力非凡,對來稿文章質量要求很高,稿件投稿過審難度很大,刊登文章的學術水平和編輯質量在同類雜志中均名列前茅。如果你想在該雜志上發表論文,你可以向編輯部提交文章,但文章必須具有重要意義并代表該領域專業的發展。我們歡迎廣大同領域的研究者提交投稿。

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement 雜志中科院分區

中科院SCI分區數據
中科院SCI期刊分區(2023年12月升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 2區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區 2區
中科院SCI期刊分區(2022年12月升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 2區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區 2區
中科院SCI期刊分區(2021年12月舊的升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 2區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區 2區
中科院SCI期刊分區(2021年12月基礎版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 3區 2區
中科院SCI期刊分區(2021年12月升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 2區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區 2區
中科院SCI期刊分區(2020年12月舊的升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 2區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區 2區
中科院分區趨勢圖
影響因子趨勢圖

中科院JCR分區:中科院JCR期刊分區(又稱分區表、分區數據)是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果,是衡量學術期刊影響力的一個重要指標,一般而言,發表在1區和2區的SCI論文,通常被認為是該學科領域的比較重要的成果。

影響因子:是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數據,現已成為國際上通用的期刊評價指標,不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標,而且也是測度期刊的學術水平,乃至論文質量的重要指標。

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement 雜志JCR分區

Web of Science 數據庫(2023-2024年最新版)
按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 53 / 352

85.1%

學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 9 / 76

88.8%

按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 52 / 354

85.45%

學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 7 / 76

91.45%

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement CiteScore 評價數據(2024年最新版)

  • CiteScore:9
  • SJR:1.536
  • SNIP:1.741

CiteScore 排名

學科類別 分區 排名 百分位
大類:Physics and Astronomy 小類:Instrumentation Q1 13 / 141

91%

大類:Physics and Astronomy 小類:Electrical and Electronic Engineering Q1 114 / 797

85%

CiteScore趨勢圖
年發文量趨勢圖

CiteScore:是由Elsevier2016年發布的一個評價學術期刊質量的指標,該指標是指期刊發表的單篇文章平均被引用次數。CiteScore和影響因子的作用是一樣的,都是可以體現期刊質量的重要指標,給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement 雜志發文統計

文章名稱引用次數

  • Automatic Defect Detection of Fasteners on the Catenary Support Device Using Deep Convolutional Neural Network54
  • Intelligent Bearing Fault Diagnosis Method Combining Compressed Data Acquisition and Deep Learning53
  • Medical Image Fusion With Parameter-Adaptive Pulse Coupled Neural Network in Nonsubsampled Shearlet Transform Domain43
  • Monitoring of Large-Area IoT Sensors Using a LoRa Wireless Mesh Network System: Design and Evaluation40
  • Vibration-Based Intelligent Fault Diagnosis for Roller Bearings in Low-Speed Rotating Machinery34
  • Deep Architecture for High-Speed Railway Insulator Surface Defect Detection: Denoising Autoencoder With Multitask Learning26
  • Highly Sensitive SPR Biosensor Based on Graphene Oxide and Staphylococcal Protein A Co-Modified TFBG for Human IgG Detection26
  • RideNN: A New Rider Optimization Algorithm-Based Neural Network for Fault Diagnosis in Analog Circuits25
  • An Unsupervised-Learning-Based Approach for Automated Defect Inspection on Textured Surfaces21
  • A CNN-Based Defect Inspection Method for Catenary Split Pins in High-Speed Railway20

國家/地區發文量

  • CHINA MAINLAND696
  • Italy237
  • USA215
  • India144
  • England101
  • Canada92
  • GERMANY (FED REP GER)70
  • Spain53
  • South Korea47
  • Brazil38

機構發文發文量

  • INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT SYSTEM)85
  • CHINESE ACADEMY OF SCIENCES50
  • XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY44
  • TSINGHUA UNIVERSITY42
  • TIANJIN UNIVERSITY40
  • BEIHANG UNIVERSITY39
  • UNIVERSITY OF MISSOURI SYSTEM33
  • HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY30
  • SHANGHAI JIAO TONG UNIVERSITY28
  • SOUTHWEST JIAOTONG UNIVERSITY28

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement 雜志社通訊方式

《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志通訊方式為:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。詳細征稿細則請查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導服務,SCI檢索,確保稿件信息安全保密,合乎學術規范,詳情請咨詢客服。

免責聲明

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