根據最新信息《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》期刊在JCR分區中的排名如下:
按JIF指標學科分區學科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC,收錄子集:SCIE,位于Q1區,排名53 / 352,百分位85.1%;INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION,收錄子集:SCIE,位于Q1區,排名9 / 76,百分位88.8%;按JCI指標學科分區在學科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC,收錄子集:SCIE,位于Q1區,排名52 / 354,百分位85.45%INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION,收錄子集:SCIE,位于Q1區,排名7 / 76,百分位91.45%。
投稿咨詢按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 53 / 352 |
85.1% |
學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 9 / 76 |
88.8% |
按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 52 / 354 |
85.45% |
學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 7 / 76 |
91.45% |
這表明該刊在工程:電子與電氣領域具有較高的學術影響力和認可度。此外,該刊創刊時間:1952年,影響因子:5.6,出版周期:Bimonthly、出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.以及收錄情況等信息也為其學術影響力提供了有力支持。
影響因子:是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數據,現已成為國際上通用的期刊評價指標,不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標,而且也是測度期刊的學術水平,乃至論文質量的重要指標。
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