《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志的出版周期為Bimonthly。
該刊自1952創(chuàng)刊以來(lái)，一直由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社出版發(fā)行。它專(zhuān)注于工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域，致力于發(fā)布該領(lǐng)域的前沿研究成果，推動(dòng)相關(guān)新技術(shù)和新知識(shí)的傳播。
平均審稿周期為 約6.8個(gè)月 。自創(chuàng)刊以來(lái)，它在工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域一直具有很高的影響力，對(duì)投稿文章的質(zhì)量把控非常嚴(yán)格。
《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志通訊方式為：IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。詳細(xì)征稿細(xì)則請(qǐng)查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導(dǎo)服務(wù)，SCI檢索，確保稿件信息安全保密，合乎學(xué)術(shù)規(guī)范，詳情請(qǐng)咨詢(xún)客服。
該刊影響因子為5.6，被收錄于國(guó)際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫(kù)SCIE。
投稿咨詢(xún)影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國(guó)際上通用的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo)，不僅是一種測(cè)度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測(cè)度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
中科院分區(qū)大類(lèi)學(xué)科：工程技術(shù)2區(qū)。
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| 工程技術(shù) | 2區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 2區(qū) 2區(qū) | 否 | 否 |
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| 工程技術(shù) | 2區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 2區(qū) 2區(qū) | 否 | 否 |
中科院JCR分區(qū)：中科院JCR期刊分區(qū)（又稱(chēng)分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù)）是中國(guó)科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心世界科學(xué)前沿分析中心的科學(xué)研究成果，是衡量學(xué)術(shù)期刊影響力的一個(gè)重要指標(biāo)，一般而言，發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文，通常被認(rèn)為是該學(xué)科領(lǐng)域的比較重要的成果。
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