Ieee Transactions On Device And Materials Reliability 雜志簡介
《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》重點專注發(fā)布工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域的新研究，旨在促進和傳播該領(lǐng)域相關(guān)的新技術(shù)和新知識。鼓勵該領(lǐng)域研究者詳細地發(fā)表他們的高質(zhì)量實驗研究和理論結(jié)果。該雜志創(chuàng)刊至今，在工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域，有較高影響力，對來稿文章質(zhì)量要求較高，稿件投稿過審難度較大。歡迎廣大同領(lǐng)域研究者投稿該雜志。
Ieee Transactions On Device And Materials Reliability 雜志中科院分區(qū)
中科院SCI分區(qū)數(shù)據(jù)
中科院SCI期刊分區(qū)（2023年12月升級版）
| 大類學(xué)科 |
分區(qū) |
小類學(xué)科 |
分區(qū) |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術(shù) |
3區(qū) |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
PHYSICS, APPLIED
物理：應(yīng)用
|
3區(qū)
3區(qū)
|
否 |
否 |
中科院SCI期刊分區(qū)（2022年12月升級版）
| 大類學(xué)科 |
分區(qū) |
小類學(xué)科 |
分區(qū) |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術(shù) |
3區(qū) |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
PHYSICS, APPLIED
物理：應(yīng)用
|
3區(qū)
3區(qū)
|
否 |
否 |
中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月舊的升級版）
| 大類學(xué)科 |
分區(qū) |
小類學(xué)科 |
分區(qū) |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術(shù) |
3區(qū) |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
PHYSICS, APPLIED
物理：應(yīng)用
|
3區(qū)
3區(qū)
|
否 |
否 |
中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月基礎(chǔ)版）
| 大類學(xué)科 |
分區(qū) |
小類學(xué)科 |
分區(qū) |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術(shù) |
4區(qū) |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
PHYSICS, APPLIED
物理：應(yīng)用
|
4區(qū)
4區(qū)
|
否 |
否 |
中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月升級版）
| 大類學(xué)科 |
分區(qū) |
小類學(xué)科 |
分區(qū) |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術(shù) |
3區(qū) |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
PHYSICS, APPLIED
物理：應(yīng)用
|
3區(qū)
3區(qū)
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否 |
否 |
中科院SCI期刊分區(qū)（2020年12月舊的升級版）
| 大類學(xué)科 |
分區(qū) |
小類學(xué)科 |
分區(qū) |
Top期刊 |
綜述期刊 |
| 工程技術(shù) |
3區(qū) |
PHYSICS, APPLIED
物理：應(yīng)用
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
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3區(qū)
4區(qū)
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否 |
否 |
中科院JCR分區(qū)：中科院JCR期刊分區(qū)（又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù)）是中國科學(xué)院文獻情報中心世界科學(xué)前沿分析中心的科學(xué)研究成果，是衡量學(xué)術(shù)期刊影響力的一個重要指標(biāo)，一般而言，發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文，通常被認(rèn)為是該學(xué)科領(lǐng)域的比較重要的成果。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標(biāo)，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
